術(shù)語集
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| ANSI | 美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會（American National Standards Institute）的縮寫。也被稱為美國國家標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會或美國國家標(biāo)準(zhǔn)局。是一家在美國開展工業(yè)規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)化的機(jī)構(gòu)。
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| ASA | 美國標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會（American Standards Association）的縮寫。美國工業(yè)領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)化組織，1966年因發(fā)展需要解散。現(xiàn)由ANSI接管。
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| ASME | 美國機(jī)械工程師協(xié)會（The American Society of Mechanical Engineers）的縮寫。工學(xué)領(lǐng)域的世界級規(guī)?；瘷C(jī)構(gòu)，不僅從事學(xué)術(shù)會議舉辦、技術(shù)書籍出版等工作，還負(fù)責(zé)開展技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化（規(guī)格化）活動。
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| B | |
| 標(biāo)稱值 | 測量儀等實測所得數(shù)據(jù)的平均值。 |
| D | |
| 導(dǎo)出要素 | 從組成要素導(dǎo)出的中心線、中心面、中心點。 |
| F | |
| 復(fù)合輪廓度公差方式 | 對要素與基準(zhǔn)體系之間的輪廓度，分別賦予不同公差值的方法。形體控制框分為多格時，幾何公差的符號依舊會將框格合并成1個，并且只給出2項標(biāo)示。對于同一要素，可以同時管控位置、姿態(tài)、形狀。 |
| 復(fù)合位置度公差方式 | 對要素相互之間的位置度，以及要素與基準(zhǔn)體系之間的位置度，分別賦予不同公差值的方法。形體控制框分為多格時，幾何公差的符號依舊會將框格合并成1個，并且只給出1項標(biāo)示。對于同一要素，可以同時管控位置、姿態(tài)、形狀。 |
| G | |
| 公差補償 | 根據(jù)最大/最小實體要求計算得出的對于幾何公差的緩和尺寸。借助該功能，有助于實現(xiàn)檢測的簡易化，減少過嚴(yán)公差設(shè)定引發(fā)的不良品問題。 |
| 公差等級 | 公差的數(shù)值為0.01 mm至0.09 mm或0.001 mm至0.009 mm等時，將難以讀取標(biāo)示。公差等級是為了避免這一問題，以簡化公差標(biāo)示為目的的規(guī)格。根據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)尺寸（圖示尺寸）之間的偏差，對公差進(jìn)行分級，并對不同級別賦予大寫或小寫字母的符號。 |
| GPS | “產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（Geometrical Product Specification）”的縮寫。為了排除圖紙的不明確性，系統(tǒng)整合測量的不確定度，使產(chǎn)品適用于國際認(rèn)證制度，由ISO TC213技術(shù)委員會負(fù)責(zé)補充修訂現(xiàn)有的國際標(biāo)準(zhǔn)，推進(jìn)規(guī)格化的發(fā)展。 |
| H | |
| 锪平臺 | 為了避免螺栓、螺絲等工件的頂端凸出，或是為了確保締結(jié)力而使表面平滑等理由，將孔口進(jìn)一步鉆大挖深的切削加工。
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| I | |
| ISO | 國際標(biāo)準(zhǔn)化組織（International Organization for Standardization）的縮寫。負(fù)責(zé)制定國際通用標(biāo)準(zhǔn)的非政府組織，由ISO制定的標(biāo)準(zhǔn)被稱為ISO標(biāo)準(zhǔn)。 |
| J | |
| JIS | 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（Japanese Industrial Standards）的縮寫。由JISC（日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，根據(jù)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法經(jīng)濟(jì)產(chǎn)業(yè)省下設(shè)的審議會）負(fù)責(zé)制定的標(biāo)準(zhǔn)，內(nèi)容包括日本工業(yè)產(chǎn)品的相關(guān)規(guī)格及測量法等。 |
| 基準(zhǔn)的浮動 | 基準(zhǔn)為尺寸要素時，對基準(zhǔn)適用最大實體要求，不限制基準(zhǔn)的動作。 |
| L | |
| 零幾何公差 | 最大實體狀態(tài)下，視作無（零）幾何偏差，在逐漸接近最小實體狀態(tài)的同時，將相應(yīng)差分賦予幾何公差的方式。 |
| 理想形狀 | 從幾何上來看沒有偏差的形狀。 |
| N | |
| 內(nèi)部輪廓 | 形成機(jī)械部件內(nèi)面（孔或槽的內(nèi)面）的要素。 |
| P | |
| 平均直徑 | 該標(biāo)示意為，圓形體或圓柱體中2點測得的平均值，必須處于最大容許極限尺寸值與最小容許極限尺寸值之間。標(biāo)注為“AVG”。 |
| 普通公差 | 對于在功能上沒有特殊要求的尺寸（長度、角度、倒角尺寸），用批量標(biāo)示替代在圖中逐個標(biāo)示公差的方式。公差等級（基本尺寸公差等級）的符號取決于精度。 |
| 普通幾何公差 | 對于在功能上沒有特殊要求的幾何公差，用批量標(biāo)示替代在圖中逐個標(biāo)示的幾何公差方式。公差等級（基本尺寸公差等級）的符號取決于精度。 |
| S | |
| 實體公差 | 在尺寸公差與幾何公差之間指定特殊關(guān)系的1種方式。通過符號或，在圖紙上進(jìn)行指定。分為“最大實體要求”與“最小實體要求”，使用該方式，能夠在實體狀態(tài)與實際尺寸存在差異時，增加指定的幾何公差。
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| 實效尺寸 | 規(guī)定要素實效狀態(tài)的尺寸。對外形輪廓而言， 等于“最大容許尺寸＋姿態(tài)公差或位置公差” 對內(nèi)部輪廓而言， 等于“最小容許尺寸－姿態(tài)公差或位置公差” |
| T | |
| T.I.R | Total Indicator Reading的縮寫。跳動測量中最大值與最小值的差。 |
| 泰勒原則 | 工件的最大實體尺寸，必須用正確制成該工件最大實體尺寸的通規(guī)進(jìn)行檢測。相對的，檢測工件的最小實體尺寸時，則必須使用正確制成該工件最小實體尺寸，在設(shè)計上能夠逐一檢測工件各要素的止規(guī)。
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| 提取要素 | 測量得到的要素。 |
| W | |
| 外形輪廓 | 形成機(jī)械部件外面（圓柱軸及長方體的外面）的要素。 |
| X | |
| 心軸 | 尺寸、幾何特性均為高精度的圓柱軸。
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| Z | |
| 自準(zhǔn)直儀 | 對角度進(jìn)行非接觸式測量的光學(xué)測量儀。將光源光線轉(zhuǎn)換成平行光，由接物透鏡照射到裝設(shè)在測量物頂面的反射鏡上，以角度秒為精度，測量其與反射光的角度差。可測量真直度、直角度、平面度等。 |
| 組成要素 | 表面或表面上的線。具有實體的要素。 |
| 最大實體實效狀態(tài)（MMVC：Maximum Material Virtual Condition） | 尺寸公差與幾何公差構(gòu)成的體積最大的狀態(tài)。 |
| 最佳擬合 | 對比測量產(chǎn)品的測量數(shù)據(jù)與3D CAD數(shù)據(jù)，確認(rèn)差分的功能。擬合結(jié)果將顯示為3D圖像，可確認(rèn)各測量點的數(shù)據(jù)與CAD數(shù)據(jù)之間的偏差。 |
| 最小實體實效狀態(tài)（LMVC：Least Material Virtual Condition） | 尺寸公差與幾何公差構(gòu)成的體積最小的狀態(tài)。 |
